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1.6T/800G模块与高速AEC带流老化系统 MATC072

MATC072产品是微特面向高速光、电互连产品制造市场推出的一款用于 800G、1.6T 模块或高速线缆的在线老化测试系统，该系统可通过模拟长期工作环境，监测模块在高温工况下的电气性能、温度稳定性及可靠性，筛选出潜在故障模块，保障产品出厂质量。单机最大可提供144个DUT接口，支持144个模块或72根高速线缆同时带流老化测试，灵活匹配产线波动需求；每个老化腔体内可独立控温，让测试可根据需求灵活调整；可自动读取DUT模块PN/SN信息、实时监控关键参数并上传至MES。内置TestAge上位机管理软件，支持同时监控6×12=72个腔体、72×2=144个DUT端口的老化情况、支持腔体信息明细查看（包括温度、背板SN/PN、托盘SN/PN等）、支持DUT老化情况明细查看（监控指标参数包括电压、电流等）、支持定制老化方案、支持整机自检、支持MES数据上传以及老化过程数据本地存储等功能，实现对下位机设备的高效管控与数据可视化管理。

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产品详情

产品概要

关键技术参数

项目		技术参数	说明
老化能力		同时老化模块最大数量144 只，支持带流老化测试	72 个抽屉，单抽屉承载 2 只DUT
腔体配置		抽屉腔体数量72 个，单腔老化 DUT 数量2 只	抽屉式结构，独立腔体设计
温度控制		老化温度范围：RT+30~+85°C 温度均匀性：≤±1°C 温度过冲：≤3°C 单腔热负载能力：≥100W	根据光模块功率和种类，老化温度范围稍有变化
供电参数		供电工作电流：0~16A AC电源类型：3×220/380V~50/60Hz 最大输出功耗：＜8KW	支持动态电流调节，适配不同功率规格模块
模块兼容性		支持封装类型：QSFP-DD、OSFP等	可根据需求扩展定制其他封装类型
数据协议		I2C DDM 数据读取协议：CMIS 5.3协议	支持通过CMIS协议升级DUT固件
通讯接口		外部接口：RS232串口、以太网口、USB	-
保护功能		过压保护、欠压保护、过流保护、过温保护	-
尺寸（长×宽×高）		展开尺寸：1050×700×2254mm（含风扇，三色灯展开）装箱前尺寸：1050×700×2219mm（含风扇，三色灯折叠）	展开尺寸即设备正常工作时的最高尺寸（三色灯展开时的尺寸）
重量		设备净重：288 Kg	不含包装、托盘
		设备毛重：335 Kg	含机柜和包装，不含托盘
		托盘净重：0.89 Kg	-
		地面承重：≥500Kg/㎡	-
工作环境	工作温度/湿度	0°C~30°C / 20%～50%（无凝露）	避湿度超出范围需配备除湿 / 加湿设备
	存储温度/湿度	0°C~40°C / 20%~80%（无凝露）	湿度超出范围需配备除湿 / 加湿设备
	大气压力	86kPa~106kPa	适应常规工业环境
	电源及功耗	AC 3×220/380V~50/60Hz，16A，谐波失真≤5%	-

应用领域

数据中心 / AI 算力光模块量产老化（核心场景）： 800G、1.6T 光模块（QSFP-DD、OSFP 等封装）出厂前高温（≤85℃）长期带电老化，筛选光功率漂移、误码率不达标等早期失效，保障数据中心级高可靠性。
高速线缆老化测试： 800G、1.6T 线缆（AEC / DAC 等有源/无源高速线缆）老化适配，电环回衰减仅 5dB，边老化边验证高速链路信号完整性，无需升级硬件即可覆盖模块与线缆两代产品。
光模块 PCBA 板级在线老化：对光模块 / PCBA 板在高温工况下进行电气性能、温度稳定性与可靠性监测，在板级提前暴露潜在故障。
通信器件可靠性分析： 用于早期失效剔除、失效模式分析与批次可靠性评估——带流老化暴露误码类缺陷的能力。

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全心全意为客户，为社会，为股东，为员工创造价值

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